Software-based interferometric positioning
B.J. Muth; P. J. Oonincx; C. C.J.M. Tiberius
RFID in Retail: New approaches, new viewpoints
Sander de Ridder; Jan Kroon; Frans van der Reep (Lector); Christian Vrijlandt
Klanttevredenheid kan niet zonder een goed beleid : klantgerichtheid als basis voor een helder beleid en betere prestaties
B.A. Heemskerk-Nooij (Begeleider); Richard Bakker (Student)